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薄膜厚度測量
薄膜輪廓與粗糙度測量
減震消磁系統(tǒng)
薄膜電性測量設(shè)備
薄膜力學(xué)性能測量
粒度分析儀
LA-960V2HORIBA 激光粒徑分布分析儀
CN-300HORIBA 離心式納米粒度分析
SZ-100V2HORIBA 納米顆粒分析儀
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K系列博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀
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α500系列低頻消磁系統(tǒng)
EST-L主動(dòng)式防震系統(tǒng)
EST-58-450桌上型主動(dòng)式隔振臺
iMicroKLA 納米力學(xué)測試儀
iNanoKLA 納米壓痕儀
R54四探針電阻率測量儀